विद्यार्जन संसाधन केंद्र, भारतीय प्रौद्योगिकी संस्थान इन्दौर
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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis

Reimer, Ludwig

Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis - 2nd ed. - Berlin Springer 1998 - xiv, 527 p. ; 24 cm - Optical sciences .

ISBN: 9783540639763

Subjects--Topical Terms:
Physics

Dewey Class. No.: 502.825 / REI

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